製品を過酷な条件の下において劣化を促進し、長期間に起こる劣化が短期間に進むとみなして、現実的な時間における試験で長期の試験に代える方法である。有機EL素子では、実際に使う輝度よりも高輝度の条件で、複数のサンプルを使って加速試験を行うことで、所定輝度の素子寿命を見積る方法がとられている。素子の輝度と寿命の間には次の関係があることが経験的に分かっている。t2＝t1(L1/L2)↑A　ここで、t1は輝度L1での素子寿命、t2は輝度L2での素子寿命（L2＜L1）、Aは加速係数である（一般的には1.0～2.0の値をとることが多い）。たとえば、L1とt1は測定により既知であるので、輝度を変えた何点かのL1とt1の測定から、低輝度L2における素子寿命t2を求めることができる。素子によっては、初期輝度の大小により発光スペクトルが異なる場合や、試験の途中で発光スペクトル変化する場合もあるので注意を要する。また、駆動電流が大きい場合や発光面積が大きい場合など、ジュール熱による素子の発熱にも注意が費用である。