インピーダンス分光(IS)法

インピーダンス分光(IS)法

評価・解析方法
半導体評価方法
インピーダンス分光(IS)法は、有機エレクトロデバイスに微小正弦波電圧を印加し、その応答電流の振幅と位相からインピーダンスを算出し、印加電圧の周波数の関数としてインピーダンススペクトルを得る測定法である。有機半導体層および電極/半導体層界面等のインピーダンスを時定数の違いにより分離することができる。インピーダンスには、有機エレクトロンデバイスの等価回路やキャリア移動度、再結合時間、局在状態分布などの情報が含まれており、簡便な測定でありながら種々の物理量を得ることができる。有機EL素子では、発光閾値電圧以下では発光が観測されないため、電子、ホールのいずれか一方のみが注入されている。このため、測定結果は単一キャリア注入モデルにより記述できる。

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