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奥本研究所
触針式膜厚計(触針式段差計)
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触針式膜厚計(触針式段差計)
触針式膜厚計(触針式段差計)
評価・解析方法
薄膜評価法
薄膜の膜厚を評価するための装置。先の尖った針で表面をなぞっていき、薄膜が存在する部分と存在しない部分の段差を測定する。水平方向にはmm単位でスキャンでき、垂直方向(膜厚方向)にはオングストロームオーダーの分解能を持つ。有機薄膜デバイスの有機層の膜厚は、通常、数十~数百nm程度と薄いが、触針式膜厚計で測定が可能である。
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